Publications Conception de Systèmes Hétérogènes
2022
Journal articles
- titre
- Architecture optimization of SPAD integrated in 28 nm FD-SOI CMOS technology to reduce the DCR
- auteur
- D. Issartel, S. Gao, P. Pittet, R. Cellier, D. Golanski, A. Cathelin, F. Calmon
- article
- Solid-State Electronics, Elsevier, 2022, 191, pp.108297. ⟨10.1016/j.sse.2022.108297⟩
- identifiant
- hal-03651521
- DOI
- DOI : 10.1016/j.sse.2022.108297
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-
- titre
- Neutron-Induced Effects on a Self-Refresh DRAM
- auteur
- Lucas Matana Luza, Daniel Söderström, Helmut Puchner, Rubén García Alía, Manon Letiche, Carlo Cazzaniga, Alberto Bosio, Luigi Dilillo
- article
- Microelectronics Reliability, Elsevier, 2022, 128, pp.#114406. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114406⟩
- identifiant
- lirmm-03435635
- DOI
- DOI : 10.1016/j.microrel.2021.114406
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Book sections
- titre
- Approximations in Deep Learning
- auteur
- Etienne Dupuis, Silviu-Ioan Filip, Olivier Sentieys, David Novo, Ian O'Connor, Alberto Bosio
- article
- Approximate Computing Techniques - From Component- to Application-Level, pp.467-512, 2022, 978-3-030-94704-0. ⟨10.1007/978-3-030-94705-7_15⟩
- identifiant
- hal-03494874
- DOI
- DOI : 10.1007/978-3-030-94705-7_15
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-
Books
- titre
- Approximate Computing Techniques
- auteur
- Alberto Bosio, Daniel Menard, Olivier Sentieys
- article
- Springer, In press
- identifiant
- hal-03494868
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-
2021
Journal articles
- titre
- CNN weight sharing based on a fast accuracy estimation metric
- auteur
- Etienne Dupuis, David Novo, Ian O'Connor, Alberto Bosio
- article
- Microelectronics Reliability, Elsevier, 2021, 122, pp.#114148. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114148⟩
- identifiant
- hal-03257748
- DOI
- DOI : 10.1016/j.microrel.2021.114148
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- titre
- Modeling of the Buried Multiple Junction (BMJ) Detector in Reach-Through (RT) Conditions
- auteur
- Thais Luana Vidal de Negreiros Da Silva, P. Pittet, Guo-Neng Lu
- article
- IEEE Sensors Journal, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021, 21 (8), pp.9723-9730. ⟨10.1109/JSEN.2020.2993892⟩
- identifiant
- hal-03622156
- DOI
- DOI : 10.1109/JSEN.2020.2993892
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- titre
- Multi-Objective Application-driven Approximate Design Method
- auteur
- Salvatore Barone, Marcello Traiola, Mario Barbareschi, Alberto Bosio
- article
- IEEE Access, IEEE, 2021, 9, pp.86975-86993. ⟨10.1109/ACCESS.2021.3087858⟩
- identifiant
- hal-03257706
- DOI
- DOI : 10.1109/ACCESS.2021.3087858
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-
- titre
- Towards the Integration of Reliability and Security Mechanisms to Enhance the Fault Resilience of Neural Networks
- auteur
- Nikolaos Deligiannis, Riccardo Cantoro, Matteo Sonza Reorda, Marcello Traiola, Emanuele Valea
- article
- IEEE Access, IEEE, 2021, pp.10.1109/ACCESS.2021.3129149. ⟨10.1109/ACCESS.2021.3129149⟩
- identifiant
- cea-03452247
- DOI
- DOI : 10.1109/ACCESS.2021.3129149
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-
Conference papers
- titre
- Modelling of vertical and ferroelectric junctionless technology for efficient 3D neural network compute cube dedicated to embedded artificial intelligence (Invited)
- auteur
- Cristell Maneux, Mukherjee Chhandak, Marina Deng, Maeva Dubourg, Lucas Réveil, Georgeta Bordea, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu, Jens Trommer, Evelyn T Breyer, Stefan Slesazeck, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, M. Karner, David Pirker, Zlatan Stanojevic, David Atienza, Alexandre Levisse, Giovanni Ansaloni, Arnaud Poittevin, Alberto Bosio, D. Deleruyelle, Cédric Marchand, Ian O'Connor
- article
- 67th Annual IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2021), Dec 2021, San Fransisco, United States. ⟨10.1109/IEDM19574.2021.9720572⟩
- identifiant
- hal-03408078
- DOI
- DOI : 10.1109/IEDM19574.2021.9720572
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- titre
- Pros and Cons of Fault Injection Approaches for the Reliability Assessment of Deep Neural Networks
- auteur
- Annachiara Ruospo, Lucas Matana Luza, Alberto Bosio, Marcello Traiola, Luigi Dilillo, Ernesto Sanchez
- article
- LATS 2021 - IEEE 22nd Latin American Test Symposium, Oct 2021, Punta del Este, Uruguay. pp.1-5, ⟨10.1109/LATS53581.2021.9651807⟩
- identifiant
- lirmm-03435567
- DOI
- DOI : 10.1109/LATS53581.2021.9651807
- Accès au texte intégral et bibtex
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