Publications Conception de Systèmes Hétérogènes

2022

Journal articles

titre
Architecture optimization of SPAD integrated in 28 nm FD-SOI CMOS technology to reduce the DCR
auteur
D. Issartel, S. Gao, P. Pittet, R. Cellier, D. Golanski, A. Cathelin, F. Calmon
article
Solid-State Electronics, Elsevier, 2022, 191, pp.108297. ⟨10.1016/j.sse.2022.108297⟩
identifiant
hal-03651521
DOI
DOI : 10.1016/j.sse.2022.108297
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03651521/file/Issartel_2022.pdf BibTex
titre
Neutron-Induced Effects on a Self-Refresh DRAM
auteur
Lucas Matana Luza, Daniel Söderström, Helmut Puchner, Rubén García Alía, Manon Letiche, Carlo Cazzaniga, Alberto Bosio, Luigi Dilillo
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2022, 128, pp.#114406. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114406⟩
identifiant
lirmm-03435635
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2021.114406
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03435635/file/2021___MICREL___Neutron_Induced_Single_Event_Effects_on_a_Self_Refresh_DRAM___HAL_Version.pdf BibTex

Book sections

titre
Approximations in Deep Learning
auteur
Etienne Dupuis, Silviu-Ioan Filip, Olivier Sentieys, David Novo, Ian O'Connor, Alberto Bosio
article
Approximate Computing Techniques - From Component- to Application-Level, pp.467-512, 2022, 978-3-030-94704-0. ⟨10.1007/978-3-030-94705-7_15⟩
identifiant
hal-03494874
DOI
DOI : 10.1007/978-3-030-94705-7_15
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Books

titre
Approximate Computing Techniques
auteur
Alberto Bosio, Daniel Menard, Olivier Sentieys
article
Springer, In press
identifiant
hal-03494868
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2021

Journal articles

titre
CNN weight sharing based on a fast accuracy estimation metric
auteur
Etienne Dupuis, David Novo, Ian O'Connor, Alberto Bosio
article
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2021, 122, pp.#114148. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114148⟩
identifiant
hal-03257748
DOI
DOI : 10.1016/j.microrel.2021.114148
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03257748/file/CNN_WS_for_MR_21.pdf BibTex
titre
Modeling of the Buried Multiple Junction (BMJ) Detector in Reach-Through (RT) Conditions
auteur
Thais Luana Vidal de Negreiros Da Silva, P. Pittet, Guo-Neng Lu
article
IEEE Sensors Journal, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021, 21 (8), pp.9723-9730. ⟨10.1109/JSEN.2020.2993892⟩
identifiant
hal-03622156
DOI
DOI : 10.1109/JSEN.2020.2993892
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titre
Multi-Objective Application-driven Approximate Design Method
auteur
Salvatore Barone, Marcello Traiola, Mario Barbareschi, Alberto Bosio
article
IEEE Access, IEEE, 2021, 9, pp.86975-86993. ⟨10.1109/ACCESS.2021.3087858⟩
identifiant
hal-03257706
DOI
DOI : 10.1109/ACCESS.2021.3087858
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03257706/file/Multi-Objective_Application-Driven_Approximate_Design_Method.pdf BibTex
titre
Towards the Integration of Reliability and Security Mechanisms to Enhance the Fault Resilience of Neural Networks
auteur
Nikolaos Deligiannis, Riccardo Cantoro, Matteo Sonza Reorda, Marcello Traiola, Emanuele Valea
article
IEEE Access, IEEE, 2021, pp.10.1109/ACCESS.2021.3129149. ⟨10.1109/ACCESS.2021.3129149⟩
identifiant
cea-03452247
DOI
DOI : 10.1109/ACCESS.2021.3129149
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https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-03452247/file/Towards_the_Integration_of_Reliability_and_Security_Mechanisms_to_Enhance_the_Fault_Resilience_of_Neural_Networks.pdf BibTex

Conference papers

titre
Modelling of vertical and ferroelectric junctionless technology for efficient 3D neural network compute cube dedicated to embedded artificial intelligence (Invited)
auteur
Cristell Maneux, Mukherjee Chhandak, Marina Deng, Maeva Dubourg, Lucas Réveil, Georgeta Bordea, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu, Jens Trommer, Evelyn T Breyer, Stefan Slesazeck, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, M. Karner, David Pirker, Zlatan Stanojevic, David Atienza, Alexandre Levisse, Giovanni Ansaloni, Arnaud Poittevin, Alberto Bosio, D. Deleruyelle, Cédric Marchand, Ian O'Connor
article
67th Annual IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2021), Dec 2021, San Fransisco, United States. ⟨10.1109/IEDM19574.2021.9720572⟩
identifiant
hal-03408078
DOI
DOI : 10.1109/IEDM19574.2021.9720572
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BibTex
titre
Pros and Cons of Fault Injection Approaches for the Reliability Assessment of Deep Neural Networks
auteur
Annachiara Ruospo, Lucas Matana Luza, Alberto Bosio, Marcello Traiola, Luigi Dilillo, Ernesto Sanchez
article
LATS 2021 - IEEE 22nd Latin American Test Symposium, Oct 2021, Punta del Este, Uruguay. pp.1-5, ⟨10.1109/LATS53581.2021.9651807⟩
identifiant
lirmm-03435567
DOI
DOI : 10.1109/LATS53581.2021.9651807
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03435567/file/2021___LATS___Pros_and_Cons_of_Fault_Injection_Approaches_for_the_Reliability_Assessment_of_Deep_Neural_Networks___HAL_Version.pdf BibTex
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