Offre de thèse CIFRE entre l’INL et le LNE

Métrologie des techniques de microscopie à sonde locale micro-onde appliquées aux mesures de transport dans le domaine des semiconducteurs
La thèse proposée ici a pour objectif le développement d’outils métrologiques pour les
microscopes à sonde locale micro-onde SMM couramment utilisés pour les mesures locales
d’impédance aux petites échelles. Le SMM (Scanning Microwave Microscope) est un microscope
champ proche qui travaille à haute fréquence.
Contacts:
François Piquemal : , 01 30 69 21 73 (Site LNE)
Brice GAUTIER : , 04 72 43 70 03